二極管在電子設備中起著至關重要的作用，其質量和可靠性直接影響到整個系統(tǒng)的性能。為了確保二極管的高質量和可靠性，需要進行嚴格的篩選程序。

江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機構，實驗室擁有齊全的元器件篩選、環(huán)境與可靠性試驗檢測能力，可開展包括阻容器件、分立器件、電連接器等產(chǎn)品的二次篩選服務，接下來為大家介紹二極管的二次篩選（補充篩選）程序。

1. 編序列號

編序列號是篩選程序的第一步，它不涉及具體的測試方法和參數(shù)，但為后續(xù)的篩選步驟提供了標識。

2. 電參數(shù)測試（室溫）

在室溫下進行電參數(shù)測試是篩選過程中非常關鍵的一步。根據(jù)不同類型的二極管，測試的電參數(shù)也不同：

- 對于普通、開關、整流二極管，測試參數(shù)包括正向電壓降（\(V_F\)）、反向電壓（\(V_R\)）或反向電流（\(I_R\)）。

- 對于低功耗、穩(wěn)壓二極管，測試參數(shù)包括正向電壓降（\(V_F\)）、穩(wěn)壓電流（\(I_Z\)）和反向電流（\(I_R\)）。

所有測試結果必須符合標準規(guī)范規(guī)定的產(chǎn)品使用要求，且不得超過限值。

3. 溫度循環(huán)

溫度循環(huán)測試旨在評估二極管在溫度變化環(huán)境中的可靠性。按照條件B，進行5次循環(huán)測試。對于玻璃封裝引線式二極管，在冷熱轉換時每次不超過5分鐘。

4. 恒定加速度

恒定加速度測試用于模擬二極管在高加速度環(huán)境下的性能表現(xiàn)。測試加速度為9800m/s2（條件Y_4），適用于重量不超過10克的器件。此測試的缺陷批合格質量水平（LTPD）為5，且不需要進行全檢。

5. 外觀及機械檢查

通過10倍放大鏡或顯微鏡進行外觀及機械檢查，可以在開始時增加一次檢驗。此步驟確保二極管的外觀和機械結構沒有明顯的缺陷。

6. 粒子碰撞噪聲檢測（PIND）

粒子碰撞噪聲檢測（PIND）測試用于檢測二極管內部是否存在微小顆粒。測試按照條件A進行，LTPD為10，不需要全檢。

7. 高溫反偏（HTRB）

高溫反偏測試僅適用于開關和整流二極管，測試條件為125±2℃的反偏電壓0.75倍額定值。高溫老化時間根據(jù)批次生產(chǎn)情況可為96小時、72小時或48小時，但不得少于24小時。

8. 老練前電參數(shù)測試（室溫）

老練前的電參數(shù)測試在室溫下進行，條件同序號2。測試結果需滿足詳細規(guī)范要求。

9. 老練（室溫）

在室溫條件下進行老練測試，按條件B進行，時間可以為240小時、168小時或96小時。對于已進行老練測試的器件，總累積老練時間不得少于24小時。

10. 老練后電參數(shù)測試（室溫）

老練后的電參數(shù)測試在室溫下進行，條件同序號2。I級別產(chǎn)品的PDA（過程失效率）≤5%（最多1個不合格），II級別PDA≤10%（最多2個不合格），III級別PDA≤15%（最多3個不合格）。

11. 電參數(shù)測試（高溫）

在高溫下進行電參數(shù)測試，測試條件同序號2的詳細規(guī)范要求。LTPD為10，不需要全檢。

12. 電參數(shù)測試（低溫）

在低溫下進行電參數(shù)測試，測試條件同序號2的詳細規(guī)范要求。LTPD為10，不需要全檢。

13. 密封測試

密封測試包括細檢和粗檢兩部分：

- 細檢按條件G進行，粗檢按條件A或C進行。

- 對于非氣密性器件，測試條件不詳；對于玻璃封裝引線式器件，只需在5±1cm真空水箱中進行粗漏檢測。

14. 外觀及機械檢查

通過10倍放大鏡或顯微鏡進行外觀及機械檢查，確保二極管的外觀和機械結構沒有明顯的缺陷。

二極管的二次篩選程序包括一系列嚴格的電參數(shù)測試、環(huán)境測試和機械檢查，確保產(chǎn)品在各種使用條件下的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試步驟相互配合，全面評估二極管的質量，為最終用戶提供高可靠性的產(chǎn)品保障。

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